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信息描述

提高330 KV耐张复合绝缘子串的绝缘水平,通过电场分析,对绝缘子串不安装均压环、单独安装均压环或均压屏蔽环、同时安装均压环和均压屏蔽环以及加装一片XP-100瓷绝缘子等五种情况下的电场分布做了仿真计算.结果说明,均压屏蔽环对于降低绝缘子串连接区、连接金具、均压环及导线上的电场强度有***作用,但其自身的电场强度却无法降低.在绝缘子串下端加装一片盘型悬式瓷绝缘子可有效降低均压屏蔽环上的电场强度,有助于提高绝缘子串的绝缘水平.


针对高压直流盘形悬式瓷或玻璃绝缘子离子迁移问题,以直流绝缘子离子迁移试验标准为基础,对***直流绝缘子离子迁移的机理研究和开发的试验系统进行了分析和调研,设计了完整的直流绝缘子离子迁移试验系统和方案,并开发了一套基于MSP430单片机的直流绝缘子体电流采集处理系统,实现了50路体电流信号和1路电压信号的的循环测量和数据采集,体电流测量结果自动量程转换。整套系统满足直流绝缘子离子迁移试验标准要求,具有一定的工程实用性。


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