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我们会与客户一起平衡机会与风险,快速响应客户的需求,实现(1-HLCB/4.4T/ZEL)1-HLCB/4.4T/ZEL的可持续发展。CMOS 基成像器正在成为军事应用领域的主流成像器。2.2.2 CMOS与 MEMS集成新技术目前,关于集成智能传感器制作工艺的研究***是与CMOS工 艺 兼容的各种 传感器结构及其制工艺流程。传感器和致动器(S&A)通常采用--MEMS技术,因 此,可以利用MEMS 与 CMOS的不同结合衍生出各种新集成技术平台。德州仪器公司的微镜就是--规模。

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虽然每个规格并不*定适用于你的称重控制器的安装,重要的是要了解每一个规格来确定称重传感器的综合精度。

非线*是测力传感器的校准曲线的距离与称重传感器,从零开始负荷和小区的ZUI大额定容量结束的直线的ZUI大偏差。非线*测量细胞的称量误差在其整个工作范围内。为± 0.018 %的ZUI坏情况下的非线*规范看到了称重传感器的全部范围内。较小上的测力传感器的重量变化,较小的距离的非线*引起的误差。

滞后是称重传感器输出读数的相同的施加负荷之间的差 - 由通过减小来自称重传感器的ZUI大额定容量的负载从零,其他增加负载获得的一个读数。与非线*,ZUI坏情况下的± 0.025%滞后规范被看到在负载单元的全范围内,并且具有小的重量变化所造成的滞后误差减小。在应用程序中,如配料,在那里你通常只在灌装需要精QUE的重量测量,你可以忽略造成滞后的错误。迟滞误差通常分为在称重传感器的校准曲线不同的区域比非线*误差。因此,这两个错误的规格组合在一些称重传感器的代数和,称为综合误差的规范,±0.03%。

不可重复*是在相同的负载条件反复载荷称重传感器输出读数之间的ZUI大差值(即,要么增加负载从零或减小来自称重传感器的ZUI大额定容量的负载)和环境条件。的不可重复*规格为± 0.01 %,比称重传感器的全部范围内。不可重复*可以影响在任何称量应用体重测量。可以通过添加的不可重复*误差称重传感器的组合的错误确定ZUI坏情况下的不可重复*规范。

蠕变是在称重传感器输出SUI时间的变化,当称重传感器保持在很长一段时间上。在一个2至3分钟的间歇或填充循环,蠕变不是明显的问题。但是如果使用称重传感器来*仓库存,你就需要考虑蠕变的影响。

稳定*就是说传感器在使用一些时日后,*能仍然HEN好的情况下称为稳定*。当然影响稳定的因素还是非常多的,除了本身*能的原因外,其中一点就是环境影响,因此要使传感器具有较强的环境适应能力,我们在选择称重传感器之前,就要先对周围的环境做一个简单的*,挑选适当的传感器,或者做一些相应的减少环境影响的措施,就正常来说,环境适应能力非常强的传感器有价格上也会稍贵一些。

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